po terminietermin 2025-02-15 00:59
Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej
Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT Politechniki Warszawskiej
wadium nieznaneSzczegóły
- Numer referencyjny
- 26279-2025
- Typ
- 16
- Opublikowano
- 2025-01-15
- Termin
- 2025-02-15 00:59
- Lokalizacja
- Warszawa, mazowieckie, PL
- Kraj zamawiającego
- PL
- Identyfikator
- 5250005834
- Ostatnia aktualizacja
- 2026-08-02
Pełne ogłoszenie
Oficjalny dokument Dz.U. UE
Kody CPV
Wspólny Słownik Zamówień
Aparatura kontrolna i badawcza
Treść ogłoszenia
Pełna treść tego ogłoszenia jest dostępna tylko w TED.