Dostawa układu do pomiaru temp. podłoży Si, GaAs, InP, GaSb, InAs oraz Ge, platformy sterującej oraz spektrometru pracującego w obszarze widma widzialnego i bliskiej podczerwieni
Instytut Fizyki Polskiej Akademii Nauk
wadium nieznaneSzczegóły
- Numer referencyjny
- 2023/BZP 00122292
- Typ
- Tender Result Notice
- Opublikowano
- 2023-03-06 12:05
- Lokalizacja
- Warszawa, mazowieckie, PL
- Kraj zamawiającego
- PL
- Identyfikator
- 5250009275
- Ostatnia aktualizacja
- 2026-08-10
Kody CPV
Wspólny Słownik Zamówień
Maszyny i aparatura badawcza i pomiarowaSprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny (z wyjątkiem szklanego)Aparatura kontrolna i badawcza
Wykonawcy
1 przyznane
k-Space Associates Inc.Dexter, US
73 305 PLNTreść ogłoszenia
Pobieramy treść ogłoszenia. Zwykle pojawia się tego samego dnia.